Electrical
membrane noise
From fig 2 in our IEEE paper
This phenomenon discovered by Derksen and myself during the sixth decade
forms the basis of the random processes
that occur within the nervous
system.
Its intensity and "shape" depends on
membrane potential
(in mV at left, inside with respect to outside).
Units:
5 mV (vertical) and 1 ms (horizontal).
Analysis of its spectrum (frequency content)
revealed properties of the up to then only theoretically present membrane ion transport channels
(cf. Stevens, 1972, pdf file).
In our 1966 article in Science (pdf file) we had, in fact, shown that these channels
could be investigated into detail. This then stimulated research into membrane
channel behaviour as such.
|
|
Elektrische
membraanruis
Uit fig. 2 in ons IEEE artikel
Dit door Derksen en mij in de zestiger jaren
ontdekte verschijnsel
ligt ten grondslag aan de toevalsprocessen
die in het
zenuwstelsel optreden.
Intensiteit en "vorm" van de ruis hangen
af van de membraanpotentiaal
(links in mV, in de cel ten opzichte van erbuiten).
Eenheden:
5 mV (vertikaal) en 1 ms (horizontaal).
Uit analyse van de frequentieinhoud van deze ruis (het
frequentiespectrum) volgden eigenschappen van de tot dan toe alleen
theoretisch aanwezig veronderstelde ionen transporterende kanalen in de
zenuwcelmembraan (zie Stevens, 1972, pdf-bestand).
In ons Science artikel uit 1966
(pdf bestand) hadden wij in feite laten
zien dat het gedrag van membraan kanalen kon worden bestudeerd. Dit
stimuleerde het onderzoek naar en aan deze kanalen als zodanig in de
hierop volgende jaren. |